光耦合器简介
光耦合器（Optocoupler, OC），，，，电子领域中一种使用光信号举行电-光-电转换的隔离器件，，，，通常包括一个发光二极管（LED）作为光源和光敏半导体器件作为吸收器。。。

光耦合器以其小巧的体积、精彩的电气隔离和强盛的抗滋扰能力，，，，在多种电子应用中占有了主要位置。。。尤其在汽车电子系统中，，，，光耦合器的使用日益增多，，，，因此它们必需知足汽车行业的严苛可靠性标准，，，，才华被用于汽车制造。。。这要求车用光耦合器必需通过AEC-Q系列标准认证。。。

光耦合器的汽车行业认证标准
2013年版的AEC-Q101包括了正反向事情试验，，，，适用于光电子器件。。。2017年，，，，AEC-Q102宣布，，，，为光器件提供了认证依据。。。2020年，，，，AEC-Q102-A版宣布，，，，指出光耦等光组件将在AEC-Q102-003中进一步细分。。。2021年，，，，AEC-Q101更新至E版，，，，去除了光类器件的形貌和相关情形应力及寿命试验。。。

2022年底，，，，AEC-Q102-003宣布，，，，正式将光耦合器列为OE-MCM类型之一，，，，确认了光耦合器的车规标准为AEC-Q102-003。。。




AEC-Q101与AEC-Q102的比照剖析

类型	AEC-Q101	AEC-Q102
适用工具	工具：车用分立半导体元器件 晶体管:BJT、MOSFET、IGBT 二极管：Diodes、Rectifier、Zeners、PIN、Varactors 光器件：LEDs、Optocoupler、Photodiodes、Phototransistors	工具：车用分立光电半导体元器件        Light Emitting Diodes、Laser Components、Photodiodes、Phototransistors
样本量	情形应力试验：3lot×77pcs/lot LTPD(Lot Tolerance Percent Defective) = 1, 90%置信度的失效率为1%	情形应力试验：3lot×26pcs/lot LTPD (Lot Tolerance Percent Defective) = 3, 90%置信度的失效率为3%
失效判据	不切合规格书划定的电学和光学参数规模 情形试验前后参数值转变未坚持在±20%以内 ；；；泄电未坚持在5倍初始值以内（关于湿气试验为10倍） 由于情形试验泛起物理损坏 若是失效缘故原由被供应商和用户以为是由于处置惩罚不当或ESD的缘故原由引起，，，，这些失效可以被忽略，，，，但应泛起在报告中	不切合规格书划定的电学和光学参数规模 情形试验前后参数值转变未坚持在附录5划定的±x%以内 由于情形试验泛起物理损坏（迁徙、侵蚀、机械破损、分层等） ；；；有些物理损坏可能由供应商和用户赞成以为仅仅是外观不良而不影响认证效果 ；；； 若是失效缘故原由被供应商和用户以为是由于处置惩罚不当、测试板毗连、ESD或其它跟测试条件无关的缘故原由引起，，，，这些失效可以被忽略，，，，但应泛起在报告中
应力前后参数测试
高温事情	施加最大偏置	5a HTOL1：最高允许事情温度条件下施加一定的驱动电流使得结温抵达最高允许值 5b HTOL2：为最大驱动电流条件下选择事情温度使得结温抵达最高允许值 无需降额时，，，，5a=5b
温度循环	低温-55℃，，，，高温为最高结温（不凌驾150℃）	低温-40℃，，，，高温凭证焊点温度调解
高温高湿	Ta=85℃/85%RH，，，，器件施加额定正向偏置	6a WHTOL1：双85条件下施加一定的驱动电流使得结温抵达最高允许值，，，，30min开/30min关 6b WHTOL2：双85条件下施加最小驱动电流、如无最小电流则施加不使结温超3K的驱动电流
功率温度循环	温升≥100℃	低温-40℃，，，，高温凭证焊点温度来定
DPA	从完成H3TRB或HAST、TC试验的样品中，，，，每项随机抽取2个样品	完乐成率温度循环（PTC）/间歇事情寿命（IOL）、高温高湿事情（WHTOL1、WHTOL2）/高温高湿反偏（H3TRB）、硫化氢侵蚀（H2S）、混淆气体侵蚀（FMG）试验的样品中随机抽取2只/批
热阻	JESD24-3（MOS），，，，JESD24-4（BJT），，，，JESD24-6（IGBT）	JESD51-50、JESD51-51、JESD51-52，，，，针对LED

AEC-Q102与AEC-Q101的异同
1.适用工具
AEC-Q101：针对车用分立半导体元器件，，，，如晶体管、二极管和光器件。。。
AEC-Q102：专注于车用分立光电半导体元器件，，，，如发光二极管、激光组件、光电二极管、光电晶体管。。。

2.样本量与情形应力试验
AEC-Q101：要求3批，，，，每批77件，，，，LTPD（批量容差百分比缺陷）为1%，，，，90%置信度的失效率为1%。。。
AEC-Q102：要求3批，，，，每批26件，，，，LTPD为3%，，，，90%置信度的失效率为3%。。。

3.失效判据
AEC-Q101与AEC-Q102均划定，，，，若器件的电学和光学参数不切合规格书划定，，，，或情形试验前后参数值转变凌驾划定百分比，，，，或因情形试验泛起物理损坏，，，，则视为失效。。。

4.情形应力与寿命试验
AEC-Q101与AEC-Q102均包括高温事情（HTOL）、温度循环（TC）、功率温度循环（WHTOL）等试验项目。。。

5.AEC-Q102新增项目
AEC-Q102相较于AEC-Q101，，，，新增了振动、攻击、VVF变频振动试验、MS机械攻击、脉冲事情寿命（PLT）、凝露（DEW）、H2S硫化氢侵蚀、FMG混淆气体侵蚀等项目。。。

AEC-Q102较AEC-Q101增添的项目
1.振动、攻击
VVF变频振动试验，，，，试验条件：在20～100Hz频率规模内，，，，位移幅值（峰-峰值）1.5mm
；；；在100Hz～2kHz频率规模内，，，，加速率200m/s2。。。

MS机械攻击，，，，试验条件：X、Y、Z三个笔直轴的六个偏向上各施加5次攻击（共30次），，，，半正弦脉冲，，，，一连时间0.5ms，，，，峰值加速率1500g's

2.脉冲事情寿命PLT
脉宽100 μs,占空比3%

3.凝露DEW
温度循环规模为30～65℃，，，，在65℃坚持4～8 h，，，，转换时间为2～4 h，，，，RH=90～98%
以规格书中的最小驱动电流坚持1008 h。。。若规格书中未界说额定最小电流，，，，可选定一个驱动电流，，，，其值不可使Tjunction的温度上升幅度凌驾3K。。。

4.硫化氢和混淆气体侵蚀
H2S硫化氢侵蚀：在温度40℃和湿度90%RH的条件下坚持336小时，，，，H2S的浓度为15×10-6
FMG混淆气体侵蚀：在温度25℃和湿度75%RH条件下坚持500小时，，，，气体浓度如下：H2S浓度：10×10-9
；；；SO2浓度：200×10-9
；；；NO2浓度：200×10-9
；；；Cl2浓度：10×10-9

AEC-Q102与AEC-Q101有哪些相同点
只有通过AEC-Q划定响应的所有测试项目，，，，才华声称该产品通过了AEC-Q认证
；；；
供应商经用户赞成可以使得样本量和测试条件低于AEC-Q要求，，，，但这种情形不可以为通过AEC-Q认证
；；；
关于ESD，，，，允许供应商声称该产品通过响应品级的AEC-Q，，，，如“AEC-Q102 qualified to ESD H1B”
；；；
通用数据：为简化认证和重新认证的历程，，，，勉励使用通用数据
；；；通用数据必需基于相同工艺、质料、所在等
；；；PV和ESD必需实测，，，，不可使用通用数据
；；；用户具有是否接受通用数据替换特定实测数据的最终决议权。。。
优先级要求：当文件要求有冲突时，，，，遵照下述顺序：采购订单》特殊商定的产品要求》AEC-Q要求》AEC-Q引用的参考标准要求》供应商的产品规格书
所有认证样品需从生产基地（批产地）加工制造
任何器件的改变影响到或可能影响到器件的组成、装置、功效、质量和可靠性时，，，，要举行重新认证
关于每一次认证，，，，供应商都必需向用户提供设计、结构和认证的证书（CDCQ）

AEC-Q102与AEC-Q101需执行的相同项目
?预处置惩罚
?外观检查
?参数验证
?ESD
?物理尺寸检查
?端子强度
?耐焊接热
?可焊性
?绑线拉力
?焊点推力
?芯片剪切力
?无铅要求

总结
AEC-Q102与AEC-Q101虽然在某些要求上相同，，，，但AEC-Q102针对光耦合器等光电子器件提供了更详细的认证指导，，，，包括新增的振动、攻击等试验项目。。。选择准确的认证标准关于确保光耦合器产品的高可靠性至关主要。。。